Prozess-Tool für die Probe-Cards-Inspektion
Wafer bleiben unversehrt. Im Rahmen der Fachtagungen IS-Test Workshop (ISTW) in München und dem Semiconductor Wafer Test Workshop (SWTW) in San Diego (USA) hat das Unternehmen Nanofocus aus Oberhausen sein neues Messsystem ›µsprint hp-opc 3000‹ vorgestellt. Es wird für die optische Inspektion von Probe Cards, speziellen Test-Vorrichtungen bei…[mehr]
Flexible Mikroskop-Alternative
Aufnahmen mit bis zu 500-facher Vergrößerung. Eine Alternative zu herkömmlichen Mikroskopen bietet jetzt das auf optische Messtechnik spezialisierte Unternehmen Polytec aus Waldbronn. Die Kombination aus Zoom- oder Festbrennweiten-Objektiv mit einer modernen Fadenkreuzkamera ist laut Herstellerangaben nicht nur deutlich flexibler einsetzbar,…[mehr]
Magnetische offene Längenmesssysteme
Alternative zu optischen Messsystemen. Mit dem ›Smartscale‹ stellt das Unternehmen Magnescale die nächste Generation von berührungslosen, offenen Längenmesssystemen mit magnetischem Sensorprinzip vor. Die Kombination aus neu entwickeltem magnetischem Maßstabsmaterial und TMR-Sensor ermöglicht eine große Einbautoleranz des Lesekopfes und eine hohe…[mehr]
Digitaler Messprojektor mit integriertem Höhenmesstaster
Schnell, einfach und benutzerunabhängig: Der digitale Messprojektor ›IM-6225T‹ von Keyence aus Neu-Isenburg ergänzt die Modellreihe um ein weiterentwickeltes Gerät mit integriertem Höhenmesstaster. Wie bei den übrigen Messprojektoren setzt Keyence auch bei seinem neuen System auf ein einfaches Bedienkonzept, das jeden Mitarbeiter – egal über…[mehr]
Klimamessstation für die Laserinterferometrie
Labor-Klimamessstation mit Präzisionstemperatur-, Luftdruck- und Luftfeuchtemessung: Für hochpräzise laserinterferometrische Messungen muss die Laserwellenlänge in Luft korrigiert werden. Dazu wird eine hochgenaue Umweltdatenerfassung, vor allem der Temperatur und des Luftdrucks, benötigt. Das Unternehmen Sios aus Ilmenau hat dazu eine…[mehr]
Verunreinigungen nachweisen
Globale Vereinbarung: Mitarbeiter im Reinraum können nun äußerst geringe mikrobiologische Verunreinigungen sehr viel schneller nachweisen als mit traditionellen Methoden. Diese Fähigkeit ist das Ergebnis einer globalen Vereinbarung zwischen den Unternehmen Mocon und Particle Measuring Systems (PMS). Das ›GreenLight‹-System von Mocon verfügt…[mehr]
Hochauflösendes 3D-Profilometer
Oberflächentexturen und -strukturen flexibel erfassen: Das spanische Unternehmen Sensofar Metrology stellt ein hochauflösendes, kontaktfreies 3D-Profilometer in einem kompakten Format vor. Das ›S lynx‹ basiert auf der 3-in-1-Schlüsseltechnologie, bei der Konfokaltechnik, Interferometrie und Fokus-Variation in nur einem Messkopf kombiniert werden.…[mehr]
Sensor für schnelle Messungen
3D-Digitalisierung mit großer Flexibilität und hoher Messgeschwindigkeit: Das Unternehmen Zeiss in Oberkochen stellt den ultrakompakten 3D-Sensor ›Comet L3D 2‹ für einfache sowie schnelle Messungen vor. »Der Sensor erfasst 3D-Daten der Bauteile und Objekte schnell und genau «, unterstreicht Dr. Marcus Steinbichler, Geschäftsführer von Carl…[mehr]
Mikrowerkzeuge hochgenau messen
Toleranzen von wenigen Mikrometern: Das ›VideoCheck V HA‹ des Gießener Messtechnikspezialisten Werth ist ein Multisensor-Koordinatenmessgerät für die Werkzeugmessung. Durch schwingungsarme Luftlager und eine massive Granitbauweise in Verbindung mit einer hochpräzisen Drehachse sollen Genauigkeiten erreicht werden, die das Messen von Werkzeugen mit…[mehr]
Messsystem für kleine Bauteile
Berührungslos und flächenhaft Schwingungen messen: Der ›MSA-050‹-Micro System Analyzer von Polytec in Waldbronn soll die Schwingungen an kleinen Bauteilen und Mikrosystemen vollflächig und hochgenau erfassen. Er arbeitet laut Hersteller berührungslos und misst so die Dynamik selbst kleiner Messobjekte vollkommen unverfälscht. Die…[mehr]